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磁粉探傷儀與超聲波探傷儀原理及應(yīng)用
更新時間:2013-07-29   點擊次數(shù):1345次

磁粉探傷儀與超聲波探傷儀原理及應(yīng)用

      探測金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷,常用的探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著爭探傷等方法。物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進行無損探傷。

 

磁粉探傷:磁粉探傷是用來檢測鐵磁材料表面和近表面缺陷的一種檢測方法。當工件磁化,若工件表面有缺陷存在,由于缺陷處的磁陰增大而產(chǎn)生漏磁,形成局部磁場,磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,從而判斷缺陷的存在。

1.按工件磁化方向的不同,可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。

2.按采用磁化電流的不同可分為:直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。

3.按探傷所采用磁粉的配制不同,可分為干粉法和濕粉法。

超聲波探傷;原理是利用超聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進入另一截面時,在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法,當超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部,遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來,在屏上形成脈沖波型,根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小

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