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IM3536 LCR測試儀
更新時間:2019-03-22   點擊次數(shù):1517次

日本 IM3536 LCR測試儀
日本 IM3536 LCR測試儀DC,4Hz~8MHz測量頻率,今后的*產(chǎn)品
測量頻率DC,4Hz~8MHz
測量時間:快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進行低阻測量
可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量
從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
日本 IM3536 LCR測試儀主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。

日本 IM3536 LCR測試儀技術(shù)參數(shù);

測量模式LCR(單一條件下測量),連續(xù)測量(保存條件下連續(xù)測量)
測量參數(shù)Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數(shù)由Z規(guī)定)
顯示范圍Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ)
測量頻率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
測量信號電平[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) 
[CC模式]的[通常模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
輸出阻抗通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示彩色TFT5.7英寸,觸摸屏
功能比較器、BIN測量(2個項目10種分類),觸發(fā)功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件電源線×1,使用說明書×1,CD-R(通訊說明書,LCR應用光盤)×1
深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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